国家知识产权局信息显示,南亚科技股份有限公司申请一项名为“测试系统及侦测测试错误的方法”的专利,公开号CN121276279A,申请日期为2025年9月。
专利摘要显示,提供一种测试系统,测试系统包含测试装置、监控装置及侦测装置。测试装置包含探针装置。探针装置测试晶圆以产生测试数据。监控装置耦接测试装置,及产生图片。图片包含晶圆的多个晶片。所述多个晶片的每一者是根据测试数据以对应颜色显示。侦测装置包含第一存储装置。第一存储装置存储机器学习模型。侦测装置用以执行机器学习模型的推论操作以根据图片侦测对应晶圆的测试错误,以增加生产效率。
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来源:市场资讯